ZJ-3型精密D333測(cè)試儀主要介紹

ZJ-3型壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專(zhuān)用儀器，它可用來(lái)測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測(cè)量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù)，儀器測(cè)量范圍寬，分辨率細(xì)，可靠性高，操作簡(jiǎn)單，對(duì)試樣大小及形狀無(wú)特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，測(cè)量結(jié)果和極性在三位半數(shù)字面板表上直接顯示。ZJ-3型增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)、放電提示以及被測(cè)波形輸出等功能，使得儀器在測(cè)量未放電（尤其是較大尺寸）的壓電元件時(shí)具備了高電壓放電提示及保護(hù)功能，本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門(mén)的儀器。

ZJ-3型精密D333測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)

d33測(cè)量范圍：

 ×1擋：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升級(jí)到10000PC/N.
  ×0.1擋： 1到200pC/N，2 至400pC/N。

可配D31塊體夾具，D15塊體夾具，D15圓管夾具，薄膜拉伸夾具

可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機(jī)使用
  誤差：×1擋：±2%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在100到4000pC/N；

計(jì)量標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)樣尺寸：18mm*0.8mm，老化時(shí)間：2-3年（評(píng)判壓電測(cè)試儀準(zhǔn)確性能的重要依據(jù)之一）
  ±5%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在10到200pC/N；
  ×0.1擋：±2%±1個(gè)數(shù)字，(當(dāng)d33在10到200pC/N)
  ±5%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在10到20pC/N。
  分辨率：   ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1   pC/N。
  尺寸：施力裝置：Φ110×140mm；儀器本體：240×200×80mm。
  重量：施力裝置：約4公斤；     
  儀器本體：2公斤。
  電源：220伏，50赫，20瓦。

補(bǔ)充參數(shù):

TDZT-04C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)

TDZT-04C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)是最新一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開(kāi)關(guān)特性，可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱(chēng)電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。

TDZT-04C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)

主要技術(shù)參數(shù)

主要技術(shù)指標(biāo)：

1.輸出信號(hào)電壓：：薄膜：0～±10V 陶瓷、材料：0～±2000V

2.輸出信號(hào)頻率：薄膜材料1-1000HZ，陶瓷：0-1Hz

3.電容范圍：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。

4.電流范圍:   1nA～10A   ,精度:   ≤1%。

5、測(cè)試樣品：0-20mm  5個(gè)

6、高壓樣品池：開(kāi)放式：8CM*5CM

7、三維移動(dòng)薄膜測(cè)試平臺(tái)：直立式探針一套

8、電流：1-10倍放大，信號(hào)：1-20倍。.數(shù)據(jù)結(jié)口：USB或BNC接口。

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件： 能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線，定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試，電阻測(cè)量，漏電流測(cè)量。

10.可以配合ZJ-3和ZJ-6型壓電測(cè)試儀操作系統(tǒng)

PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片）

         PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片）

關(guān)鍵詞：壓電極化，壓電陶瓷材料，1-4片

主要特點(diǎn)：

1.能夠同時(shí)極化1-4片試樣

2.提供多套測(cè)試夾具（可以測(cè)試粉末，單樣品，及薄的壓電陶瓷片）

2. 安全可靠，溫度補(bǔ)償快、恒溫精度高

3. 每路當(dāng)漏電流超過(guò)規(guī)定值時(shí)，都具有切斷保護(hù)功能，不影響其它樣片的極化，其它回路可按正常極化時(shí)間完成極化。

4. 任意夾持樣品尺寸為0-40mm片方型或是圓型試樣

7、工作電源：AC220V    50/60HZ

8、額定功率：2.0kw

9、壓電材料極化或耐壓測(cè)試：DC：0-10KV（±5％+2個(gè)字）連續(xù)可調(diào)

10、總電流：10mA

11、每路切斷電流：0.5mA

12、加熱時(shí)間：可以自動(dòng)設(shè)定  

13、加熱元件 ：優(yōu)質(zhì)電阻絲

14、1次測(cè)試試樣數(shù)量:可加載1-4片試樣

15、額定溫度 ：≤180℃

16、最高溫度 ：200℃

17、控溫方式 ：智能化恒溫控制（進(jìn)口表），多段程序可控

18、樣片 ：樣品尺寸為3-40mm片方型或是圓型試樣

19、外形尺寸 ：   875*470*400（mm)

20、極化探頭：優(yōu)質(zhì)銅電極（0.2mm）

21、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

21、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量

22、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀

DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀

關(guān)鍵詞：介電常數(shù)，諧振頻率Fp，機(jī)電耦合系數(shù)Ke?，機(jī)械品質(zhì)因素 Qm

     DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀是一款多功能的介電測(cè)試儀，即可測(cè)試包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，又可以測(cè)量諧振頻率Fs，反諧振頻率Fp，機(jī)電耦合系數(shù)   Ke?，機(jī)械品質(zhì)因素 Qm，最大導(dǎo)納Gmax等材料參數(shù)，為材料研究測(cè)試提供第一手原始數(shù)據(jù)，提供元整的數(shù)據(jù)圖，是高等院校，科研院所及材料研究生產(chǎn)的重要工具,同時(shí)還可以配合高溫設(shè)備，進(jìn)行高溫設(shè)備測(cè)試。

一、主要特點(diǎn)：

●自動(dòng)平衡技術(shù)電橋，測(cè)量準(zhǔn)確度高

●4端對(duì)開(kāi)爾文測(cè)試端，測(cè)量范圍準(zhǔn)確度高

●提供內(nèi)部直流偏壓-5V～+5V

●可選配內(nèi)部±40V偏置電壓源

●簡(jiǎn)體中文、英文操作語(yǔ)言

●分檔測(cè)量、列表掃描、繪圖掃描、開(kāi)路、短路、負(fù)載校正等等功能

●配備電導(dǎo)率σ·介電常數(shù)ε的運(yùn)算功能

●進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)、測(cè)試條件保存（U盤(pán)或內(nèi)部）

●繪圖掃描圖像直接拷屏到U盤(pán)功能

●加強(qiáng)的測(cè)試端保護(hù)功能

●USB、GPIB、RS232、LAN等上位機(jī)連接接口

二、主要技術(shù)參數(shù)

1、頻率：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多種可選

2、D33測(cè)試范圍：0-6000PC/N(選配ZJ-3型精密壓電系數(shù)測(cè)試儀)

5、基本精度 ：0.05%

6、測(cè)試電平: 5mV—2Vrms

7、輸出阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測(cè)試參數(shù)：D33，電容，介電常數(shù)，諧振頻率Fs，反諧振頻率Fp，機(jī)電耦合系數(shù) Ke?，機(jī)械品質(zhì)因素 Qm，最大導(dǎo)納Gmax等

9、通道數(shù)：1通道

10、電極： 雙面夾持探針

11、軟件：自動(dòng)計(jì)算并輸出數(shù)據(jù)，軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)，通過(guò)測(cè)量C和D值，自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓多維變化的曲線。