GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)主要介紹

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)是我院研制的即可低溫測試D33系數(shù)，又可以高溫測試D33系數(shù)。主要是針對高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測試。

二、主要應用領域：無損檢測超聲檢測，醫(yī)療超聲檢測，航空航天，石油天然器，汽車物聯(lián)網(wǎng)，，工業(yè)

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)主要技術參數(shù)

1、d33測量范圍：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力顯示：0.01-4N

3、電源：電壓220V

4、溫度范圍：溫度-100℃至+500℃

5、溫控精度：溫度顯示精度0.01℃，溫度控制精度±0.1℃，溫度漂移優(yōu)于±0.1℃內(nèi)，超調(diào)≤0.1℃。

6、升溫斜率：0.00至5.00℃/min，典型值2.00℃/min。

7、間隔保溫：0.10至50.00℃/點，保溫5分鐘即可達到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。  

8、樣品夾具：夾持雙面電極樣品，直徑小于30mm，厚度小于5mm。

9、測量環(huán)境：低溫、高溫、空氣等。

10、電極材料：耐高溫電極。

11、制冷方式：液氮控制系統(tǒng)

12、顯示：液晶顯示

13、采集方式：USB2.0高速數(shù)據(jù)

14、總重量: 15kg左右。

15、軟件：專用軟件自動測試溫度與壓電系數(shù)的關系變化

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統(tǒng)，旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發(fā)的一套鐵電測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實現(xiàn)了高溫測試，而且在電壓和頻率上進行了提高，對我們的鐵電材料研究和測試帶來更加重要的幫助，該系統(tǒng)可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關特性等性能的測試。

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)技術指標

1.輸出信號電壓：：0-4000/5000/6000/10000多種可定制

2.輸出信號頻率：0.2到100Hz（陶瓷、單晶），1到1kHz(薄膜）

3.電容范圍：電流0到±6mA（陶瓷、單晶），±50mA(薄膜）連續(xù)可調(diào),精度: ≤1%。

4.電流范圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。

5、溫度測量范圍:0-200℃

6. 匹配高溫電致應變測試模塊、夾具及自動采集軟件。

7.測試速度：測量時間《5秒/樣品•溫度點

8. 樣品規(guī)格：塊體材料尺寸：直徑2-100mm，厚度0.1-10mm，薄膜：直徑：1-60mm

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件： 能畫出鐵電薄膜的電滯回線，定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流等參數(shù);可以進行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試，電阻測量，漏電流測量。

10、控制方式：計算機實時控制、實時顯示、實時數(shù)據(jù)計算、分析與存儲

11、軟件采集：自動采集軟件，分析可以兼容其他相關主流軟件。

GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統(tǒng)主要技術參數(shù)

         GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統(tǒng)

關鍵詞：高溫介電，，-190℃-1000℃

GWJDN-1000型高溫介電測量系統(tǒng)（2019款）高溫介電測量系統(tǒng)應用于高溫環(huán)境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數(shù)的測試。是高溫介電測試系統(tǒng)測試裝置，是國家科研院所和高等學府的重要材料測試設備。

一、主要用途：

1、測量以下參數(shù)隨溫度（T）、頻率（f）、電平（V）、偏壓（Vi）的變化規(guī)律：

2、測量電容（C）、電感（L）、電阻（R）、電抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、電導（G）、電納（B）、導納（Y）、損耗因子（D）、品質(zhì)因素（Q）等參數(shù)，

3、同時計算獲得反應材料導電、介電性能的復介電常數(shù)（εr）和介質(zhì)損耗（D）參數(shù)。

4、可測試低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能

5、可以根據(jù)用戶需求，定制開發(fā)居里溫度點Tc、機電耦合系數(shù)Kp、機械品質(zhì)因素Qm及磁導率μ等參數(shù)的測量與分析。系統(tǒng)集低溫環(huán)境、溫度控制、樣品安裝于一體；具有體積小、操作簡單控溫精度高等特點。

二、主要技術參數(shù)：

主要技術參數(shù)：

1、溫度范圍： 室溫-1000℃

2、測溫精度：   0.1℃

3．升溫速度：   1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口：   RS-485

8、電極材質(zhì)： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

10、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極：  帶保護電極，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和手動控制，可更換夾具的電動升降裝置

14、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成系統(tǒng)所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測量方案：    提供靈活、豐富的測試設置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標準極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進行測量

21、配套設備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測試頻率：20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25、分辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準確度:   0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測量：多功能圖形和參數(shù)測量

31、接口方式:   RS232C或HANDLER

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀主要技術參數(shù)

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀

關鍵詞：電阻率，體電阻，表面電阻，CNAS

HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設備，可以出具CNAS整體認證的專業(yè)材料高溫測量設備，該儀器采用使用方法多樣化，2000V，6.4ms的采集系統(tǒng)，實現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，2×10^19 Ω顯示，0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，能不受測量環(huán)境影響進行穩(wěn)定測量，并且運用在產(chǎn)線中實現(xiàn)高速測量?？蓪崿F(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法標準設計開發(fā)，可以直接測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時間變化的曲線，高溫絕緣材料電阻率測試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領域得到很好的應用。

一、主要用途：適用于新材料評估的特性:

1、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗

2、貼片電容的IR測量

3、MLCC（多層陶瓷電容器）的絕緣測量

4、光伏電池薄膜的絕緣測量

5、噪音濾波器的絕緣（高阻）測量

6、液晶設備的絕緣測量

7、涂層（涂料）的表面電阻率測量

8、外殼的帶電度的測量

9、二極管的微笑泄漏電流測量

10、光電耦合器的初級/次級絕緣（高電阻）測量

11、打印機墨粉輥軸的絕緣測量

12、用于針對半導體廠家的絕緣密封件的評估試驗

13、用于組裝在貼片機、分選機、自動化設備中

一、產(chǎn)品特點：

1、多種使用方法的超絕緣計,提供CNAS計量合格證書

2、能夠作為IR表、靜電計等高電阻計，以及作為皮安表這種微小電流計來使用，使用方法非常豐富的測量儀器。

2、能不受測量環(huán)境影響進行穩(wěn)定測量，并且運用在產(chǎn)線中實現(xiàn)高速測量2000V輸出

3、偏差1/60，抗噪音性能300倍, 通過全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合，大幅提高抗噪音性能。

4、輸出電壓從0.1V到1000V，能夠以0.1V為單位任意設置

5、6.4ms的高速檢查, 高速檢查和50mA的預充電功能的組合可以實現(xiàn)高產(chǎn)量的MLCC檢查。

5、高溫爐膛，耐高溫、抗氧化的測試夾具,提供CNAS計量合格證書

二、主要技術參數(shù)：

1、體積電阻率和表面電阻率測試范圍10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm；

2、測試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V

3、電極材質(zhì)：600℃不氧化，三電極尺寸為25mm（被保護電極直徑）、38mm（保護電極內(nèi)徑）、50mm（保護電極外徑），樣品厚度在3mm以內(nèi)；

3、測量精度：①電阻≤1010Ω時，精度±5％；電阻>1010Ω時，精度±10%；②電壓＜100V時，精度±5%，電壓≥100V時，精度±2％；

2、溫度范圍;室溫~600℃；

3、控溫精度：溫度≤300℃，精度±1℃，溫度＞300℃，精度±2℃；控溫設備需有測溫口；（能夠通過計量CNAS認證）

4、測試軟件：①可設置連續(xù)升溫測試，得到不同溫度下體積電阻率、表面電阻率具體值，直接得到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線；

5、溫度精度：可設置在某一具體溫度點測試，得到體積電阻率、表面電阻率在不同時間點的具體值，直接得到體積電阻率-時間曲線、表面電阻率-時間曲線；

5、電腦要求：windows10 系統(tǒng)，內(nèi)存16G以上，CPU四核；

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min（不做計量要求）；

7、能通氮氣，測試時在高溫和氮氣環(huán)境下測試；

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410標準；

10、排氣口有過濾裝置；

HTRT-1000型導電材料高溫電阻率測試儀技術參數(shù)

HTRT-1000型導電材料高溫電阻率測試儀

關鍵詞：電阻率，導電，合金高溫

電阻率表征技術是典型的金屬、合金相變行為研究手段，比如在先進鋼中的碳運動行為分析、或是合金析出動力學研究、以及形狀記憶合金的預相變行為表征的方面。電阻率對這些相變行為則非常敏感，應用電阻率手段研究合金析出動力學行為也是非常重要的手段，是一種可以對合金時效析出過程全時段實現(xiàn)監(jiān)控的手段。同時，通過電阻率的演化規(guī)律，可以清晰的判斷GP區(qū)、析出孕育時間、析出結束（析出量大）和熟化過程等不同的階段。對于所有析出強化合金，電阻率數(shù)據(jù)都可以提供重要的工藝指導。此外，預相變過程中出現(xiàn)納米疇并導致模量軟化和弛豫內(nèi)耗行為，特別是在相變初期，用電鏡觀察很難實現(xiàn)，而納米疇的出現(xiàn)卻表現(xiàn)為電阻率的升高，因此通過電阻率演化可以清晰的表征納米疇出現(xiàn)的溫度和疇面積的演化過程。

HTRT-1000本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片，上位機智能管理分析軟件、真空多段溫控加熱設備組成的金屬電阻率智能存儲分析儀器。測試金屬樣品根據(jù)測試工藝要求任意設定加熱、降溫曲線，通過過程中電阻率的精密測量，完成對金屬內(nèi)部結構變化如相變、碳化物、固溶度等特性的分析。

一、用途：

1、棒材、管材、異型材金屬導電性能測量

2、金屬材料研究

3、碳系導電材料的電阻率和電導率測量

4、金屬氧化物系導電材料的電阻率和電導率測量

5、石墨烯金屬材料的導電性能測試

二、器成套組成： 

1.溫度控制箱：任意設定多段加熱、保溫曲線，加熱范圍:室溫至1000℃。控溫精度±1oC。

2.真空加熱爐管：采用石英真空管實現(xiàn)真空密閉狀態(tài)，達到6*10-2Pa。

3.控制信號盒：高精度的恒流源200uA-10mA,通過計算機通信控制實現(xiàn)連續(xù)可調(diào)（或定制），測量到1uΩ。

4.計算機：通信控制溫控儀加熱曲線，實時接收當前溫度值并存儲顯示。結合溫度值顯示電阻率-溫度曲線。同時存儲過程的測試條件信息，測試過程的數(shù)據(jù)。完成數(shù)據(jù)庫的基本管理、查詢、打印等功能。

5.   低溫裝置：低溫實驗可延伸-150℃，完成高低溫實驗功能。

6.   app遠程監(jiān)控：手機app完成對實驗設備主要參數(shù)的監(jiān)控，不必守在爐子旁邊也能了解實驗目前的狀態(tài)。 

7.適用于科研單位、高等院校對金屬材料的導電性能、微結構變化、相變信息等測試。

三、基本技術參數(shù)

1、控溫范圍；-150 ℃-1000 ℃，精度：-150 ℃-1000 ℃，精度±1 ℃

2、測量范圍：電  阻：1×10-6～1×10-1 Ω   ， 分辨率：1×10-7Ω

電阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分辨率：1×10-8

3、 材料尺寸：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4、 四線探針；0.5 mm-0.7mm   

5、夾具：針對不同的樣品可以設計不同的夾具

6、外形尺寸：主   機  1300mm（長）×800 mm（寬）×500mm（高）

7、凈   重：≤60kg

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測試儀

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測試儀以測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導率.

應用范圍：1、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自分析軟件，獨立分析，過程自動控制，界面友好。

6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
  8、很多其他工業(yè)和研究領域-每年都會誕生新的應用領域

技術指標要求

測量溫度：   室溫-600℃

同時測試樣品數(shù)量：  1個

測量功能：   材料賽貝克系數(shù)和電阻率Seebeck系數(shù)及電導率

控溫精度：   0.5K

測量原理：   塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法

測量精度：   塞貝克系數(shù)：＜±7％；電阻系數(shù)：＜±10％

樣品尺寸; 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導距:  ≥6 mm

電   流； 0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓：        單相，220V，